此研讨会我们将讨论 6G 通信技术的挑战和解决方案。在 5G/6G 毫米波频段下，面临高传播损耗和精密超材料操控等重大挑战。如何延伸现有 Sub-6 GHz 仪器，除了有效达到毫米波频段的测试需求，并满足 5G/6G 通信系统所需要的宽频带、高吞吐量以及高连结性等测试，仰赖信号源与分析仪的品质与整合度。

　　在多设备的环境中，高连接性也存在稳定性和效率的议题。为满足 6G 应用中多样的测试需求，我们提出创新的测试与量测方案，以提供高频段、高连接性、宽频等测试能力，并能在复杂的测试情境中，动态地适应不同场景和变化。安立公司与 TMYTEK 的先进「5G NR 信号生成与分析」解决方案，致力于解决这些关键挑战，为 6G 技术的发展提供了重要支持。

　　研讨会中将探讨 6G 测试与测量解决方案在可重构智能表面（RIS）前沿研究中的关键角色。在 6G 网络中，RIS 测试是提升信号覆盖和网络性能的关键技术。为了充分发挥 RIS 的潜力，必须进行全面的测试与测量。在本次研讨会中，我们将深入探讨如何利用安立公司矢量信号发生器 MG3710E、信号分析仪MS2850A、TMYTEK 升/降频器 UD Box/UD Module 0620、波束赋形器 BBox One 等工具进行 RIS 测试与测量：

　　UD Box 5G 和 UDM-0620 实现 Sub-6 GHz 与 5G/6G 频段间的无缝频率转换（6GHz-44 GHz），支持高频宽应用。

　　VSG 和 VSA 提供精确的信号生成和深入的信号质量分析，有助于评估 RIS 的实际应用效果。

　　BBox 5G 系列集成关键的波束成形元件，配合 TMXLAB Kit（TLK）的 GUI，允许轻松调整波束角度，从而优化信号质量。

　　RIS 的测试可以通过空口测试（OTA），在暗室中对反射信号进行 3D 扫描，以评估其各种性能指标，如误差向量幅度（EVM）和指向性精度。当 RIS 部署于蜂窝网络时，其对多路径环境的影响亦须透过覆盖测量和信道探测进行详细评估。除了频谱测量，还需分析星座图和 EVM 性能，以获得关键的 RIS 性能数据。针对高频测量挑战的解决方案，可经济有效地测量指向性、增益、旁瓣和偏转角等参数，为 RIS 开发提供全面支持。